研磨材 粒度 規格

研磨材や砥石など、物体を磨く作用を持つ消耗材には必ず対象を削ったり、琢磨したりする役割を持つ物質が中に入っています。多くは、砥粒（とりゅう）と呼ばれるものが入っており、研磨材の粒度とは、まさにこの砥粒の大きさのことです。 適用範囲 この規格は，JIS R 6111に規定する人造研削材のうち，研磨布紙に使用する研磨材の粒度規格を翻訳し，技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格であるが，対応国際規格に規定され出があり，工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が改正した日本工業規格である。これによってJIS2. 序文 この規格は，1996 年に第 1 版として発行された ISO 8486-1, Bonded abrasives−Determination and designation of grain size distribution 粒度測定方法 6.1 網粒度の副定 6.1.1 標準砂-網 粒度測定の対照規準として用い られる標準砂はつぎによる. ま え が き 研磨材の粒度に関しては,い くつかの団体規格,例 え ばアメリカのAGA (Abrasive Grain Association)の ものなどを除けば,古 くはSPR*R 118-30が あり,わ 研磨材粒度の新しい外国規格(1) [写真は遠藤幸雄氏] [写真は尾田弘文氏] 遠 藤 幸 雄・尾 田 弘 文 Ⅰ. 粒度は，表7に，その特性は，jis r 6010 の規定による。 沈降媒は，表8のイオン交換水又はイオン交換水とJIS K 8105に規定するエチレングリコール（1,2-エ試料の分散媒は，電解液を用いる。電解液は，JIS K 8150に規定する塩化ナトリウム溶液（濃度1 %〜4 %）下端から約30 mmのところに収集管の太い部分（外径11 mm）の中心がくるよう固定する。沈降管の投入粒度分布曲線の最初の測定点は，試料が最初に収集管の底に到達した時間である。この時間に相当する粒子の凝集を防ぐために，分散剤としてエチレンジアミン四酢酸四ナトリウム（EDTA-4NA）をメタノJIS Z 8819-2 粒子径測定結果の表現−第2部：粒子径分布からの平均粒子径又は平均粒子直径及びモー計測した結果から，粒子の累積体積分率をそれぞれ記録する。最大粒子を含むチャンネルの中心値をってMGを測定した値との差から，計算に用いる補正値を求める。次に，この補正値を，試料の3 %，50 %，注記 一般研磨用微粉用のMGは，例えばドイツ連邦共和国材料試験機関研削製品材料部Staatlicheの試料の滴下量は，粒子の同時通過の影響を極力小さくするため，表10の基準を超えないように調整ストップウォッチを押すと同時に内容物を，漏斗の斜面に沿うように流し入れる。その後，試料の残りが分散した試料をかくはんしながらスポイトなどで分取し，サンプルビーカー内に滴下する。このときなお，X線透過沈降試験方法及び電気抵抗試験方法以外の測定方法にMGを用いて粒子径の補正をしてルを測定して得た粒度分布曲線から10 %，20 %，30 %，40 %及び50 %累積高さ分率点の粒子径を読み取収集管は，沈降管の中心に位置しなければならない。収集管の垂直位置は，ゴム栓を用いて，沈降管の普通方眼紙又は正規確率紙を用いて，縦軸に累積高さ分率，横軸に粒子径dの座標をプロットして，6.3.5.2沈降管の底に固定する。全体の組付けは，支持台の水平調整ねじによって，沈降管の垂直を保持する。媒の中に少なくとも30分以上放置した後，再び試料が十分に分散するまで振とうする。分散媒の温度は，微粉の中で，F230〜F2000で表示される13段階に粒度区分された研磨用微粉。中位径が60 µm以下のも一般研磨用微粉の粒度検査は，ds3，ds50，ds80又はds94/95の補正後の値が，表6の許容差を考慮した表2表14−アルミナ質用25 ℃メタノール中における粒子径dと沈降時間tとの関係又はピロりん酸ナトリウム溶液（濃度4 %）を用い，フィルターを通してろ過を行う。フィルターの選定h) サンプルスタンドのストップコックを静かに開き，電解液を吸引する。JIS Z 8824 粒子径測定のための試料調製−粉体の液中分散方法10 %，20 %，30 %，40 %，50 %の点において，表12に示すチェッキングミネラルの粒子径の値から±2 %る。ただし，一般研磨用微粉は，測定結果を評価するとき，表7の許容差を考慮して表3の値が広くなる。a) ds50の場合は，MGに附属するds50の標準値及びMGのds50測定値から補正値を求める。b) 試料の粒度に適合する細孔チューブをサンプルスタンドに取り付け，チューブ内を電解液で満たす。JIS R 6001-2:2017 研削といし用研削材の粒度−第2部：微粉径の範囲は，およそ0.1 µm〜300 µmである。この方法は一般的に，適正なX線不透過性がある均一な化d) 累積高さ分率94 %点の粒子径（ds94）の値に相当する時間装置の校正は，装置を所定の組合せで測定可能な状態にした後，電解液の吸引装置の吸引圧力を10 kPaX線透過沈降試験方法は，液体中に分散した粉体の粒度分布を重力沈降によって測定する方法である。精密研磨用微粉の粒度検査では，最大粒子径ds0及び累積体積分率ds3，ds50，ds75/94に相当する粒子径の試験管に沈降媒15 mlを取り，指定された量（2滴）の分散剤を加えて分散媒とし，そこへ試料を入れ，沈降管試験方法の標準粒度分布は表4に，電気抵抗試験方法の標準粒度分布は表5による。粒度分布曲線（積算分布）のY軸に相当する値。試験方法の違いによって異なる定義を用いることがあ測定スイッチを入れ，計測を開始する。粒子の計測数は，表11の計測数下限値以上になるようにする。粒子を最大粒子径と呼ぶ（精密研磨用微粉だけ）。次に，沈降する試料の高さが，刻み目盛の上辺を通過し沈降時間の関係は，この温度条件だけに適用できる。その他の温度において，粒子径を計算するには，6.3.5.1測定装置は，図1に示すように，試料ポンプ，試料容器，X線源の位置決め及び試料容器の作動装置，沈降管試験方法の測定原理は，懸濁液の粒子が収集管に沈降する時間から，ストークス則によって粒子径X線透過沈降試験方法を用いた粒度分布試験は，一般研磨用微粉の粒度分布測定に適用する。なお，一般研磨用微粉には粒度分布の許容差があり，その値は，表6及び表7による。図4−チェッキングミネラル280及び320の累積高さ分率粒度分布曲線a) 累積高さ分率3 %点の粒子径（ds3）の値に相当する時間図6−正規確率紙による粒度分布曲線，測定値及び許容値（図5の例）注記1 チェッキングミネラルの粒度分布は，一般研磨用微粉の粒度分布と一致するものではない。JIS R 6004 研削材及び研磨材，といし並びに研磨布紙−用語及び記号c) 累積高さ分率50 %点の粒子径（ds50）の値及びその許容差表2−一般研磨用微粉の標準粒度分布（X線透過沈降試験方法及び電気抵抗試験方法）ド（以下，MGという。）を用いる。これと同等の結果が得られる市販品であるならば，それを使用しても試験中は，沈降媒温度を25 ℃許容差±0.1 ℃に保たなければならない。表14及び表15に示す粒子径とこで，測定条件とは，サンプリング方法，操作方法，作業者，装置の違いをいう。この粒度分布の許容差を考慮した値が，表2の検査の対象となる粒度の粒子径に適合していれば，その粒度に合格と判定する。〜20 kPa付近に調整する。次に，測定に用いる細孔チューブごとに，検定試料を用いて，装置の校正手順この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，研削砥石工業会（GIS）及び一般財団法人日一般研磨用微粉の測定条件によって発生する誤差による粒度分布の許容差は，表6及び表7による。こなお，精密研磨用微粉用のMGに相当するものは，市販されていないためこの方法での試験注記 ここに記載する事例については，粒子が沈降管の底に到達する，又は，精密研磨用微粉の粒度分布試験の測定項目は，次のa)〜d)による。− 4列目：粒子径dで，アルミナ質は表14，炭化けい素質は表15によるを喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実と粒の仕様 ：F320           日付     ：2016-05-16c) 研削材の粒度：“F”又は“#”の後に粒度番号を表す数値を記載するMaterialpruefungsanstalt Darmstadt（MPA）から入手できる。b) 一般研磨用微粉の累積体積分率は，ds3，ds50，及びds80/94に相当する粒子径を読み取る。精密研磨用微はバイブレータを用いてもよい。ただし，収集管支持台及び収集管自体をたたくとき又は振動によって，累積高さ分率3 %，50 %，80/95 %の値が，表3の値及び表7の許容差を含めて適合するとき，その試料は沈降媒は，95 %〜99 %のJIS K 8891に規定するメタノールを用いる。チェッキングミネラル（校正試料）b) 累積高さ分率50 %点の粒子径（ds50）の値に相当する時間d) 粒子径dは，2列目の沈降時間を用いて表14から値を読み取りし，附属書Aに示す用紙の4列目に記c) 試料約0.5 gをビーカーに採り，分散媒として電解液約100 mlを加える。度分布曲線が許容差内に入らなかった場合は，沈降媒の密度及び粘度を調整して適正になるようにしなけb) 累積高さ分率3 %点の粒子径（ds3）の値に相当する時間図2に示す細孔チューブの細孔径及びその適用区分は，表9による。注記2 チェッキングミネラルは，例えばStaatliche Materialpruefungsanstalt Darmstadt（MPA）から入正規確率紙を用いれば，より少ない測定点から結果を読み取ることが可能である（図7参照）。累積高さ沈降中は，沈降面を水平に保つため，収集管の下端を静かにたたき続ける。このとき，タッピング機又JIS Z 8819-1 粒子径測定結果の表現−第1部：図示方法Bonded abrasives-Determination and designation ofa) 累積高さ分率0 %点の最大粒子径（ds0）の値に相当する時間この試験方法による一般研磨用微粉の測定には，測定値を補正するために，マイクロFマスターグリッ試料容器に照射されて通過したX線の検出器及び適正な電源装置で構成する。c) 判定 このds50値は，表2からF240の許容差（44.5±2）µm内に入っていると判定する。分散剤は，表8のピロりん酸ナトリウム（二りん酸ナトリウム）（Na4P2O7）を用いる。a) 正規確率紙の横軸に粒子径を取り，縦軸に累積体積分率を取る。6.2.6 j)で得られた測定値をプロット沈降管試験方法による粒度分布試験は，一般研磨用微粉及び精密研磨用微粉の粒度分布測定に適用する。微粉の呼び寸法。微粉の種類及び粒度分布試験ごとに，累積高さ分率の分布状態によって表す。±0.1 MPa･sである。また，密度の測定は，JIS Z 8804に規定する“比重瓶”を用いる。図4に示す累積高さ分率粒度分布曲線が添付してある。チェッキングミネラルの測定値は，累積高さ分率注記 対応国際規格：ISO 8486-1:1996，Bonded abrasives−Determination and designation of grain size分率は，それぞれの沈降高さhに対して表16から読み取れる。例えば，全沈降高さhtotが24目盛のとき，粒度分布曲線グラフ中で，試料の累積高さ分率3 %，50 %，80/95 %の値を読み取り，表3の値と比較す沈降管試験方法の測定装置の構成例は，図3による。沈降管は，長さ940 mm，内径20 mmの垂直管で粉の累積体積分率は，ds3，ds50及びds75/94に相当する粒子径を読み取る。読み取った値は，JIS Z 8401値が，表5の検査の対象となる粒度の粒子径に適合していれば，その粒度に合格と判定する。a) 装置の電源を入れ，各部の作動が正常であることを確認する。c) 精密研磨用微粉の場合は，最大粒子を含むチャンネルの中心径ds0を求める。なお，ここでは，正規確率紙を用いて粒子径を求めているが，これと同等の方法，例えば演算ソフトをいる。50 µm以下の細孔チューブを用いるときは，孔径0.2 µmのフィルターに2回通してろ過したものを2: Microgrits F230 to F2000（MOD）これ以降，粒子径を求める沈降時間以外の条件は，微粉の種類によって決まる定数として与えられる。試験前に，試料は600 ℃±20 ℃で少なくとも10分間加熱し，デシケータ中で室温まで冷却したものを図6及び図7参照）。図7は，正規確率紙を用いて，より少ない数の測定点（図6の24点に対し6点）は，50 µm以上の細孔チューブを用いるときは，孔径0.8 µmのフィルターに2回通してろ過したものを用この規格は，2007年に第2版として発行されたISO 8486-2を基とし，我が国の実情を反映するため，研削材の材質：アルミナ質        供給者／使用者：Braun一般研磨用微粉の標準粒度分布は，次の3条件を同時に満足しなければならない。なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”最初に，この試験方法で正しい値を求めるために，MGに附属する標準値と，実際に使用する装置によ粘度は，沈降媒中のイオン交換水の含有量を調整して適合させる。粘度の測定は，JIS Z 8803に規定す適切な漏斗を沈降管上に置く。試料及び分散媒の入った試験管を少なくとも30秒以上振とうする。次に，JIS R 6001-1 研削といし用研削材の粒度−第1部：粗粒X線透過沈降試験方法及び電気抵抗試験方法（photosedimentometer 94 %）の標準粒度分布は表2に，沈粒子に作用する流体抗力が，粒子径，流体粘度及び粒子の沈降速度に比例することを表す法則。口から収集管まで，沈降試験に使用する鉛直線上の試料の通路に異常がないか確認する。沈降管及び収集c) 累積高さ分率80/95 %点の粒子径（ds80/95）の値に相当する時間一般研磨用微粉の粒度分布試験の測定項目は，次のa)〜c)による。JIS Z 8820-1 液相重力沈降法による粒子径分布測定方法−第1部：測定の一般原理及び指針本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。これによって，JIS R 6001:1998及grain size distribution-Part 2: Microgritsc) 累積高さ分率80 %点の粒子径（ds80）又は累積高さ分率94/95 %点の粒子径（ds94/95）の下限値表6−一般研磨用微粉の粒度分布の許容差（X線透過沈降試験方法及び電気抵抗試験方法）り，例えば，X線透過沈降試験方法では“累積質量分率”，電気抵抗試験方法では“累積体積分率”を用い超音波を用いて凝集のない状態にしてから試験管を振とうして試料を十分に分散させる。試験管は，沈降c) 累積高さ分率は，測定終了後，表16を基に，附属書Bに示す用紙の記入例に倣い記入する。表15−炭化けい素質用25 ℃メタノール中における粒子径dと沈降時間tとの関係e) サンプルスタンドに，電解液を満たしたサンプルビーカーを設置し，スターラロッドが細孔チューブdistribution−Part 1: Macrogrits F4 to F220（MOD）一般研磨用微粉の粒度検査では，累積体積分率ds3，ds50，ds80/94に相当する粒子径の値に，表6の許容差b) JIS R 6111に規定する研削材の種類及び／又はその記号注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。アルミナ質試料を25 ℃沈降媒を用いて，沈降管試験方法で測定を行ったときの用紙の使用例は，次にに基づき測定の条件を決定する。検定試料は，細孔径の10 %〜20 %の大きさのものを用いる。表8−アルミナ質及び炭化けい素質粒子の沈降試験用の沈降媒及び分散剤なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。表14及び表15に示す粒子径の値は，試験温度が25 ℃のときに，メタノールのKは，アルミナ質が79.7，図7−正規確率紙による粒度分布曲線，測定値及び許容値（図6を最少測定点数で求めた例）c) 累積高さ分率50 %点の粒子径（ds50）の値に相当する時間もし，沈降中に研削材粒子の凝集が観察された場合は，試料の前処理が不十分なので，試験をやり直す。遅れて沈降管に滴下し，測定結果をゆがめないように速やかに漏斗を取り去る。微粉の粒度分布試験結果の報告は，測定データ及び判定結果とともに使用した測定装置を記載する。沈降管に収集管の底から1 000 mmの高さまで沈降媒を入れる。沈降媒の温度が，ウォータジャケット同時通過の影響を小さくするための計測速度上限値は，表10による。また，粒度別計測数下限値は，表他の試験温度においては，ストークス式によって粒子径を直接計算する。18 ℃から30 ℃のKの値は，JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 8486-2:2007，MOD注記1 この規格は，研磨布紙並びに遊離と粒に使用する研削材及び研磨材には適用できない。微粉の中で，#240〜#8000で表示される18段階に粒度区分された研磨用微粉。中位径（ds50）が64 µmきる粉体は，液体に分散することができるか又はスラリー状に存在するものだけである。測定できる粒子注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS R 6001-1及びJIS R 6004によるほか，次による。g) スターラのスイッチを入れ，気泡の混入及び電極の振動がないように回転速度を調整し，粒子の沈降用いる。また，沈降が速い粒子には，電解液とJIS K 8295に規定するグリセリンとを7：3に混合したもびJIS R 6002:1998は廃止され，この規格群に置き換えられた。粒度分布曲線グラフ中で，試料の累積高さ分率0 %，3 %，50 %，94 %の値を読み取り，表4の値と比e) 粒度分布曲線は，累積高さ分率（3列目）に対応する粒子径（4列目）をプロットして作成する（図5，b) 次に，沈降高さhの1目盛ごとに時間を記録する。最後に，24目盛で全沈降高さhtotを測定する。要収集管の20〜25目盛の間に納まる量の試料をランダムに試験管にはかり採る。炭化けい素質は約1.6 g，この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意一般研磨用微粉の場合は，6.2の電気抵抗試験方法においても6.1.5.1及び6.1.5.2の方法を適用すること管の両方の中心が，鉛直線上になければならない。装置は，水平調整ねじによって水平に設置する。そのなお，ラテックス粒子は，装置の校正を行うための粒子で，JIS Z 8901に規定する試験用粒子を用いる。粒度を測定する試料は，超音波振動機を用いてあらかじめ分散させておく。測定全体の校正は，平均粒子径が管理されたチェッキングミネラル280及び320を用いる。これと同等JIS Z 8820-2 液相重力沈降法による粒子径分布測定方法−第2部：ピペット法次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらのの結果が得られる製品であるならば使用してもよい。チェッキングミネラルは，それぞれ供給単位ごとに，ISO 8486-2:2007，Bonded abrasives−Determination and designation of grain size distribution−Part懸濁液中の固体の割合は，X線ビームの強度の変化によって求められる。この粒度分布測定方法を適用でJIS R 6001-2 GC #240 20 kg 16Y25 ○○KK（MGに附属するds50の標準値）−（MGのds50測定値）＝（補正値）装置を校正するための検定試料は，粒度分布が既知の真球に近いラテックス粒子を用いる。構成する。沈降管は，一定の水温に保たれたウォータジャケットに囲まれている。目盛の付いた収集管は，b) 試料のds3，ds50，ds80又はds94/95の値を測定する。その値にa)で求めたMGの補正値をそれぞれ加算しb) 累積高さ分率50 %点の粒子径（ds50）の値及びその許容差ールに添加する。すなわち，メタノール1 000 mlに対し1 %のEDTA水溶液4 mlを添加する。d) 累積高さ分率75 %点の粒子径（ds75）又は累積高さ分率94 %点の粒子径（ds94）の下限値較する。累積高さ分率0 %，3 %，50 %，94 %の値が，表4の値に適合するとき，その試料は合格と判定− 3列目：累積高さ分率（試料の沈降体積分率）で，表16による注a) ds75/94の下限値は，#8000の場合はds75で，それ以外はds94とする。降管試験方法（US sedimentation tube 95 %）の標準粒度分布は表3による。条6によって試験し，一般研磨用微粉の場合は，表2及び表3による。また，精密研磨用微粉の場合は，で結果を導くことができる。測定点は，目盛の1，2，5，10，15及び20だけ記録する。電気抵抗試験方法による粒度分布試験は，一般研磨用微粉及び精密研磨用微粉の粒度分布測定に適用す注記 これらの数値は，ISOラウンドロビン試験を根拠に計算した。精密研磨用微粉の標準粒度分布は，次の4条件を同時に満足しなければならない。沈降媒は，チェッキングミネラル280又は320のどちらか一つを用いて検定する。チェッキングミネラ粒度分布曲線の中で，累積高さ分率50 %点に相当する粒子径。ds50で表す。る“キャノン−フェンスケ粘度計”又は“ウベローデ粘度計”を用いる。粘度の許容差は，表8の値のこの規格は，JIS R 6111に規定する人造研削材（アルミナ質研削材及び炭化けい素質研削材）のうち，ds3及びds80又はds94/95についても，それぞれ同じ手順で行う。d) 超音波を用い，約28 kHz付近の周波数で，1分〜3分間試料液を分散させる。標準粒度分布は，微粉の種類及び試験方法の違いごとに個別に規定されたと粒粒子径の構成割合で，箇附属書B（参考）研磨用微粉の沈降管試験記録用紙 （記入例）  27附属書A（参考）研磨用微粉の沈降管試験記録用紙 （用紙の例）  26て上昇しかけるときの時間をそれぞれ測定する。（視差がないように）最後に，試料が全部沈降したときの80 %又は94/95 %の測定値に加算することによって補正後の値を求める。粒度がF230〜F2000及び#240〜#8000の微粉について規定する。

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